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芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家

簡要描述:

芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家
臺式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行恒定試驗的溫濕度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

型號:SMC-36PF 瀏覽量:701
更新時間:2023-10-29 是否能訂做:是

芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家

性能指標(biāo):    
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度:≤±2℃
4.濕度范圍:85~98%R.H
5.濕度偏差:±3%R.H
6.濕度波動:±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度:設(shè)定精度±0.1℃,指示精度±0.1℃,解析度±0.1℃;濕度:設(shè)定精度±1%R.H,指示精度±1%R.H,解析度±1%R.H
5.升溫速率: 1.0~3.0℃/min 

芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件;
2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術(shù)條件;
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件;
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗Ca;
5.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環(huán)試驗;
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環(huán)試驗。

 

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):

1、工作室尺寸:300*300*400mm  (寬×深×高);

2、外形尺寸約:520*900*1380mm  (寬×深×高);

3、溫度范圍: -40℃ ~  150℃;

4、溫度波動度:≤±0.5℃;

5、溫度均勻度:≤±1℃;

6、溫度偏差:≤±2℃;

7、升降溫速率:

從 20~-40℃,約60min

從 20―100℃,約40min

8、濕度范圍:20%―98%R.H(AT 25℃~ 85℃)

9、濕度誤差: 2/-3%R.H(75%R.H以上),±5% R.H(75%R.H以下)

10、風(fēng)速:1.7~ 2.5m/s;

以上指標(biāo)均在環(huán)境溫度≤25℃,常壓,空載、無負(fù)荷條件下、距箱體內(nèi)壁1/6空間內(nèi)測試測得;

11、功率:約3.5Kw;  

12、電源:220V±10%V;50Hz;

滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法:

GB/T2423.22-87Nb      GJB1032-90          MIL-STD-2164/(E/C)   

GB/T2423.4-93         GB/T2423.34-86         GJB150.9-86  

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