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冷熱沖擊高低溫試驗箱 半導體芯片測試

簡要描述:

冷熱沖擊高低溫試驗箱 半導體芯片測試
冷熱沖擊試驗箱可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境,為測試數(shù)據(jù)的準確性和提供條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設備性能,先進便捷操作的計測裝置,結構一體化程度高,科學的空氣流通設計,使室內溫濕度均勻,避免任何死角;完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生的安全隱患,保證設備的長期可靠性

型號:TSD-80PF-2P 瀏覽量:833
更新時間:2024-07-22 是否能訂做:是

冷熱沖擊高低溫試驗箱 半導體芯片測試

箱體結構

1、 箱體外壁材料: 防銹處理冷軋鋼板+粉體噴涂

2、 箱體內壁材料:SUS304#不銹鋼板。

3、 觀察窗:高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃觀察窗一個(350X250mm)。

觀察窗上安裝照明燈。

4、 保溫材料:采用聚氨脂泡沫塑料經(jīng)高溫高壓發(fā)泡將外殼與低溫室連接成一個整體。

5、樣品室移動方式:樣品上下移動



冷熱沖擊高低溫試驗箱 半導體芯片測試

制冷工作原理:高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。過程如下: 制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換,將熱量傳給四周介質。后制冷劑經(jīng)膨脹閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低。制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。



技術參數(shù):

  1.型號:TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35*30*35cm

  2.型號:TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40*35*35cm

  3.型號:TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40*50*50cm

  4.型號:TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60*50*50cm

5.型號:TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

5.型號:TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm



材料結構:

1.結構廂式(高溫室)(低溫室)

2.內箱材質SUS#304不銹鋼

3.外箱材質冷軋鋼板靜電噴塑

4.冷凍系統(tǒng)機械壓縮二元式復疊制冷方式

5.溫度傳感器JISRTDPT100僮3(白金傳感器)

6.控制器液晶顯示觸摸屏PLC控制器

7.控制方式靠積分飽和PID,模糊算法平衡式調溫P.I.D P.W.M S.S.R

8.標準配置附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個

9.電源電壓AC380V50Hz三相四線 接地線

10.皓天專業(yè)兩廂式兩箱式高低溫冷熱溫度 沖擊檢測儀器設備實驗箱 定做品牌制造商優(yōu)質廠家,行業(yè)從事十余年

 


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