冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)家試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式:試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱,位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)
型號(hào):TSD-80F-2P | 瀏覽量:1083 |
更新時(shí)間:2023-10-28 | 是否能訂做:是 |
滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
♦GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
♦GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
♦GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
♦GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
♦GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
♦GJB150.3-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)
♦GJB150.4-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)
♦GJB150.5-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
♦GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)家冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)家冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性,分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,本產(chǎn)品可做冷熱沖擊,也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域,可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷,做應(yīng)力篩選試驗(yàn),提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。
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